技术参数

• 测量范围：FT-A200H的测量范围为10μm至200μm。
• 测量分辨率：提供0.01μm的高分辨率，确保能够捕捉到薄膜厚度的微小变化。
• 重复性：重复性为0.05μm，保证了测量的稳定性和可靠性。
• 线性度：±0.2%，确保测量结果的准确性。
• 测量压力：标准测量压力为0.3N，可根据需要调整。
• 输出接口：支持模拟和RS232C输出，方便与自动化系统集成。
• 尺寸和重量：主机尺寸为260（H）x 300（W）x 309（D）mm，重量约为10公斤。
• 电源：AC100-240V，适用于多种电源环境。

应用场景

• 薄膜生产：在薄膜生产线上，FT-A200H能够实时监测薄膜的厚度，确保产品质量的一致性。
• 质量控制：用于质量控制环节，检测薄膜厚度是否符合设计标准，减少次品率。
• 研发和实验：在研发和实验阶段，精确测量薄膜厚度，支持新材料和新工艺的开发。

优势与价值

• 高精度测量：FT-A200H提供高精度的厚度测量，能够满足高精度生产的要求。
• 连续测量能力：支持连续测量，提高了生产效率，减少了测量时间。
• 易于操作：设备操作简单，只需将薄膜放置在测量位置，即可自动完成测量。
• 数据输出：支持多种数据输出方式，方便与自动化系统集成，实现数据的实时监控和记录。