一、引言
日本Dakota超声波测厚仪CMX3-DL是一款高性能的多功能测厚仪,广泛应用于工业领域,用于测量各种材料的厚度。其先进的技术和多种测量模式使其成为现代工业检测的理想选择。
二、技术参数
三、工作原理
Dakota CMX3-DL超声波测厚仪基于超声波脉冲反射原理进行厚度测量。当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头。通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
四、校准方法
单点校准:
两点校准:
校准检查:
五、测量模式
脉冲-回波(P-E)模式:用于测量材料厚度。
脉冲-回波涂层(PECT)模式:同时测量材料和涂层厚度。
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式:测量材料厚度,自动温度补偿。
回波-回波(E-E)模式:穿过涂层测量材料厚度。
回波-回波验证(E-EV)模式:穿过涂层测量材料厚度,验证模式。
测量涂层(CT)模式:只测量涂层厚度。
六、应用领域
七、总结
日本Dakota超声波测厚仪CMX3-DL以其高精度、多功能和便捷的操作方式,为工业检测提供了可靠的解决方案。其多种测量模式和校准方法确保了测量结果的准确性,适用于多种材料和应用场景。