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日本hrd热范围TM3
日本hrd热范围TM3
在样品上形成金属薄膜,并用加热激光器定期加热。

| 名称/产品名称 | 热物理特征显微镜/热显微镜 |
|---|---|
| 测量方式 | 热物理性质分布测量(1D,2D,1点) |
| 测量项目 | 热效率,(热扩散率),(热导率) |
| 检测光斑直径 | 约3μm |
| 1点测量标准时间 | 10秒 |
| 待测薄膜 | 厚度从几百纳米到几十微米 |
| 重复精度 | 耐热玻璃和硅的热效率小于±10% |
| 样本 | 1.样品架30 mm x 30 mm厚度5 mm 2.板状样品30 mm x 30 mm以下且3 mm以下
|
| 工作温度极限 | 24°C±1°C(根据设备中内置的温度传感器) |
| 载物台移动距离 | ・ X轴方向20mm ・ Y轴方向20mm ・ Z轴方向10mm |
| 激光加热 | 半导体激光波长:808nm |
| 激光检测 | 半导体激光波长:658nm |
| 电源供应 | 交流100V 1.5kVA |
| 标准配件 | 样品架,参考样品 |
| 选项 | 光学平台,空调,空调房,溅射设备 |