日本rika接触探针

日本rika接触探针

• 用于细间距检查

  

  它主要用于半导体晶圆检查，目前支持的间距为110μm。另外，可以支撑多种柱塞材料。

• ■高频

  

  它用于半导体检查，具有与器件加速相对应的出色RF特性，目前已缩短至1.6 mm。另外，可以处理多种柱塞材料。

• ■用于高温

   
  

  为了满足可靠性测试中探针的高耐热温度要求，我们目前拥有与175°C兼容的HOTPIN系列。此外，我们正在进行进一步的高温兼容性开发，这对于车载设备检查是有效的。

• ■对于开尔文

   
  

  它用于4端子测量，以实现可靠的探针接触，并实现最小探针直径φ0.15mm。另外，可以处理多种柱塞材料和形状，从而实现窄节距接触。

• ■适用于大电流

   
  

  特殊的结构实现了低电阻和大电流测量。

• 

  我们正在促进每个螺距的探头标准化，以实现更低的价格和更短的交货时间。我们建议将其与IC插座固定装置组合使用。

  • 间距为0.4mm
  • 间距为0.5mm
  • 间距为0.65mm
  • 间距为0.8mm
  • 间距1.0mm