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高斯计 密度计
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型号:HGM3-3000P/HGM3-4000

更新时间:2024-05-14  |  阅读:957

详情介绍

高斯计HGM3-3000P/HGM3-4000

高斯计HGM3-3000P/HGM3-4000

日本进口magnix高斯计HGM3-3000P/HGM3-4000

标准高斯计

型号 型号HGM3-3000P
HGM-3000P 图像
HGM3-4000
HGM3-4000 图像
适用用途通用型 用于
测量各种用途的磁通密度

使用测量系统专用PC进行磁通密度分布分析。
带测量值峰值保持功能 带
AC/DC磁场测量切换
低纹波噪声稳定测量
磁铁分析仪专用机
测量
范围
30mT、300mT、3T、30T(4个量程)20mT、200mT、2T、20T(4个量程)
可测量的磁通密度取决于与探头的组合,
但通常上限为 3T。
磁的单位请参考磁通密度的单位换算
低分辨率0.01吨
测量精度± 0.5%/满量程以内
测量
频率
DC 0-500Hz
AC 20-500Hz(有效值指示)
直流 ~ 1kHz
工作温度
范围
0至+50°C
测量值显示4位数字面板 仪表显示
交流时,仪表显示显示有效值
用 3 1/2 位数字面板仪表显示
极性显示发光二极管(LED)N极:红色/S极:绿色
输出端子每个量程满量程±3V每个量程满量程±5V
电源供应AC100V±10%
尺寸/重量宽=270×高=98×深=370mm/4Kg
探头(传感器)单独出售。


使用轴向型探头的示例

轴向型使用例1

沿箭头方向
测量磁场。

轴向型使用例2

多极磁化磁铁的外周
面测量

轴向型使用例3

电磁线圈
内部测量

使用扁平型探头的示例

扁平型使用示例1

沿箭头方向
测量磁场。

扁平型使用示例2

磁铁
内周面的测量

扁平型使用例3

磁路
间隙测量


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