详情介绍
X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
日本进口fischerX 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
从上往下看,是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。可编程 XY 平台还允许自动连续测量。
| 模型 | 第 237 章 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 钙 (20) -U (92) |
| X射线探测器 | 比例计数器 (PC) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 3种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.2mm |
| 车身尺寸 | 570 x 760 x 650mm(宽 x 深 x 高) |
| 能量消耗 | 高达 120W |