日本yamashitadenso高倍率表面缺陷检测设备

YIS 系列的高倍率检测设备可在萤幕上呈现一个10mm的视场。
特别广泛应用于磊晶处理后的滑线检查。同时也适用于硬碟或光学抛光元件。
检测灵敏度约相当于50倍的微分干涉像差显微镜。

• 即时显示所有表面状态。

• 光学系统对应等级１。

• 光学系统无须维护。

• 根据检测内容，可修正检测灵敏度。

日本yamashitadenso高倍率表面缺陷检测设备

检测尺寸	从φ100mm至φ300mm
检测内容	平坦度、凹洞、凸起、刮痕、橘皮等
检测倍率	1x / 3x 模式可切换（标准设备）
检测灵敏度	检测灵敏度可连续调整
使用光源	550nm　（固定照度之稳定光源）
镜头	高解析度CCD镜头
平台	手动平台（标准设备）

• ※ 可以随时在敝公司内展示。

• ※ 可将样品寄送过来，之后我们再将影像结果回寄。

日本yamashitadenso高倍率表面缺陷检测设备

• ※ 可以随时在敝公司内展示。

• ※ 可将样品寄送过来，之后我们再将影像结果回寄。