一、产品概述

二、核心技术参数

• 测量原理：光子晶体偏振成像 + 高分辨率显微光学系统

• 双折射测量范围：0~130nm（低相位差适配微小光学件）

• 成像分辨率：500 万像素（2056×2464 pixels）

• 测量波长：520nm（单波长精准测量）

• 重复性指标：相位差 σ<0.3nm，轴方位角 σ<0.1°

• 测量适配：奥林巴斯 / 尼康主流品牌显微镜（可切换不同倍率物镜）

• 输出数据：相位差（nm）、轴方位角（°）、选配应力值（MPa）

• 工作环境：10~35℃、30~80% RH（无结露），AC100~240V 宽电压供电

三、产品核心特点

1. 显微级高精度检测：适配微米级微小样品，可精准识别微小区域应力变化，满足精密光学、电子器件检测要求。

2. 高速全视场测量：无需逐点扫描，全视场一次性采集数据，单样品检测仅需数秒，大幅提升现场质检与研发效率。

3. 可视化直观呈现：配套分析软件可生成 2D/3D 应力分布热图，清晰展示样品内部应力分布状态，便于工况判断与工艺优化。

4. 非接触无损检测：无需破坏样品结构，不影响后续使用，适用于精密光学镜片、半导体晶圆、透明封装件等珍贵样品检测。

5. 灵活适配多场景：可搭配主流品牌显微镜，支持多倍率物镜切换，适配不同尺寸微小透明样品，同时适配实验室、产线多工况需求。

6. 技术稳定：基于自研光子晶体技术，测量精度、重复性远超传统偏振光弹仪，长期运行数据稳定。

四、日本 Photonic Lattice 应力检测仪PA-micro 适用行业与场景

1. 光学行业：微型光学镜片、透镜、玻璃制品残余应力检测，光学薄膜、液晶材料相位差均匀性评估；

2. 半导体 / 电子行业：晶圆、芯片透明封装件、显示面板应力分析，MEMS 器件内部应力检测；

3. 材料行业：聚合物、晶体、透明树脂双折射特性研究，注塑件、压铸件残余应力分布检测；

4. 科研实验室：材料力学、光学特性研发，透明材料应力 - 光学性能关系分析实验；

5. 医疗 / 精密制造：医用光学器件、精密玻璃制品的质量一致性管控。