一、Loresta-GX 低阻抗率计测试仪 MCP-T700 设备性能与特点

1. 测量原理：基于直流四探针法，可直接测量样品的电阻率与方阻，无需复杂的样品前处理。设备支持自动电流换向，有效降低热电势对低阻测量结果的影响，提升数据稳定性。

2. 探头兼容性：可搭配 ASP、LSP、ESP 等多种探头，适配不同形态的样品，包括 ITO 导电膜、碳浆、导电塑料、金属镀层、半导体晶圆等。

3. 操作与数据管理：配备数字显示屏，可直接读取测量结果。支持 USB 数据输出，可连接电脑或 U 盘导出数据，便于实验记录与追溯。

二、核心技术参数

• 测量范围：电阻率 10⁻⁴ ~ 10⁷ Ω・cm；方阻 10⁻³ ~ 10⁷ Ω/□

• 测量方式：直流四端子法

• 探头接口：支持多种专用探头扩展

• 电源：AC 100~240V，50/60 Hz

• 机身尺寸：约 320×285×110 mm，重量约 2.4 kg

三、典型应用场景

• 电子材料：ITO、银浆等导电薄膜的方阻均匀性检测。

• 新能源行业：锂电池集流体、导电涂层的电阻率测试。

• 化工与材料：抗静电塑料、电磁屏蔽材料的性能评估。

• 半导体行业：硅片、锗片等晶圆的电阻率快速筛选。

四、Loresta-GX 低阻抗率计测试仪 MCP-T700 使用与维护说明

1. 样品准备：测量前需确保样品表面清洁，无油污或氧化层，避免影响接触效果。

2. 探头使用：根据样品类型选择合适探头，轻压在样品表面即可完成测量，避免用力按压损伤探头或样品。

3. 日常维护：定期清洁探头表面，保持探针的洁净；按设备手册要求定期进行校准，确保测量精度。

4. 注意事项：设备应放置在干燥、无强电磁干扰的环境中使用，避免在高温高湿条件下长时间运行。