一、日本 C-MAX QEC Cubic 多角度试样观察台 产品基础信息

二、核心规格参数

三、产品核心特点

1.多角度观测，省去复杂制样流程

直接倾斜工件观察侧壁、断面，无需树脂镶嵌、剖切打磨，大幅缩短抽检耗时，适配产线快速质检。

2.精密微调适配高倍显微成像

微调旋钮进给细腻，锁紧牢靠，拍照录像时试样不会偏移，保障微观图像质量。

3.适配多种试样

可更换夹具夹持薄片、圆柱、异形小件，适配电子、陶瓷、医疗各类零部件检测。

4.改造便捷

兼容现有显微镜，低成本拓展多角度观测能力。

四、适用行业场景

• 半导体电子：焊点侧面润湿、裂纹检测；

• 表面处理：电镀、电解加工边缘微观检视；

• 材料研发：断裂断面金相分析。

五、日本 C-MAX QEC Cubic 多角度试样观察台 安装使用注意事项

1. 易碎件控制夹持力度；高倍率下调速轻柔，防止试样磕碰物镜；定期清洁传动结构；

2. 闲置时加盖防尘罩保护精密丝杆。