日本凌和电子 PMF‑3000 超高频磁性薄膜透磁率测量装置 Permeance Meter 商品简介

日本凌和电子PMF‑3000超高频磁性薄膜透磁率测量装置Permeance Meter，采用屏蔽环路线圈测试原理，实现10MHz‑3GHz超宽带下磁性薄膜复数磁导率μ'、μ''测试，设备可施加最大1kOe直流外部偏置磁场，模拟器件实际工作工况；搭配矢量网络分析仪与专用分析软件，自动输出磁导率‑频率特性曲线，广泛用于高频软磁薄膜、微波磁性器件的研发评测，大量配置于高校磁学实验室、产业技术研究院与磁性材料企业研发部门，是薄膜磁性材料科研领域专业测量设备。

日本凌和电子 PMF‑3000 超高频磁性薄膜透磁率测量装置 Permeance Meter 产品概述

PMF‑3000是凌和电子面向磁性薄膜开发的专用超高频透磁率测量系统，专门解决薄型磁性样品在GHz频段下磁特性测试难题。设备采用屏蔽环路线圈法，区别于普通块状磁材测量设备，适配薄膜片状试样。系统由测试主机、直流偏置磁场电磁铁单元、矢量网络分析仪、专用数据分析软件共同组成。测量频段覆盖10MHz至3GHz，完整覆盖微波高频区间，能够直接测得复数磁导率实部与虚部，同时可施加直流偏置磁场，还原器件实际带磁工作条件，得到更贴合实际应用的实验数据。软件可完成数据采集、曲线绘制、数据导出，方便科研人员开展新材料研究、器件性能评估，该设备在日本多所大学与公共技术机构均有实际装机使用。

核心技术参数

产品特点

• 10MHz‑3GHz宽频测量，专门针对薄膜样品的高频磁导率测试

• 支持施加直流偏置磁场，模拟器件真实工作磁场环境

• 屏蔽环路线圈测试法，适配薄磁性薄膜，解决薄膜测试难点

• 配套专业分析软件，自动生成频谱曲线，支持实验数据导出

• 科研级测量精度，高校、研究所大量实际装机验证

• 完整系统方案，包含硬件单元与配套分析软件，开箱即可开展测试

应用场景

高频软磁薄膜新材料开发评测；微波磁性元器件性能测试；磁记录材料、电磁兼容相关磁性材料实验；高校磁学、材料学院实验室科研检测；磁性材料企业研发部门样品对标测试，为高频磁膜器件设计提供关键实验数据支撑。