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DS 暗场分光成像显微镜
参考价:¥10

型号:1

更新时间:2026-08-24  |  阅读:103

详情介绍

日本Science Edge InFocus λ DS 暗场分光成像显微镜

设备完整信息:国别‑日本|品牌‑Science Edge(サイエンスエッジ株式会社)|型号‑InFocus λ DS|设备类型‑暗场分光成像显微镜

本款InFocus λ DS暗场分光成像显微镜,创新性整合暗场显微观测技术与高光谱成像检测技术,专门面向纳米尺度微小物体、微纳结构样品的表征测试,可采集样品散射光、表面等离子体增强散射光、荧光等各类光学信号,同步输出微观形貌图像与对应点位完整光谱数据,是纳米材料、等离子光学、生物传感方向的重要科研仪器。

日本 Science Edge InFocus λ DS 暗场分光成像显微镜 核心工作原理

设备采用落射式暗场环形LED照明,搭配振镜二维扫描+线检测光谱采集架构。光谱仪狭缝承担空间分辨作用,X轴方向一行256个空间点位可以一次性完成全部光谱采集,配合振镜完成二维面扫描,快速生成样品的高光谱数据立方体。搭载电制冷256×1024像素CCD探测器,有效抑制采集噪声,捕捉微弱纳米颗粒散射信号。

主要技术规格

品牌型号日本 Science Edge InFocus λ DS
照明系统落射式暗场,白色LED环形光源
扫描模式线扫描光谱成像 + 振镜二维扫描
探测器电制冷CCD 256(空间轴) × 1024(光谱轴)
单次线采集X轴同步采集256个测点光谱
可测信号纳米颗粒散射、等离子散射、荧光光谱
配套软件颗粒识别计数、光谱提取、高光谱映射成像

产品优势

  • 整机一体化设计,出厂完成光路校准,开箱即可投入使用,免去复杂光学搭建调试;

  • 线扫描高光谱方案,对比传统单点扫描设备,成像光谱采集速度大幅提升;

  • 低噪声制冷CCD,对微弱纳米散射信号具备高灵敏度;

  • 软件集成颗粒统计分析,可自动统计视野内纳米颗粒,导出每颗粒子专属光谱曲线;

  • 暗场模式可以观测普通明场显微镜分辨不了的纳米尺度微小物体。

典型应用领域

  • ✅ 等离子体纳米材料、金属纳米颗粒科研表征

  • ✅ 表面等离子体生物传感器研发测试

  • ✅ 纳米分散液、胶体样品微观光谱分析

  • ✅ 薄膜样品微缺陷、微纳结构光谱表征

  • ✅ 生物纳米探针、荧光标记颗粒成像‑光谱联合检测

  • ✅ 高校、科研院所材料、光学、生物实验室科研工作

该设备为日本原装科研级光学分析仪器,适合对微纳样品开展形貌‑光谱一体化多维表征,可用于基础研究以及新产品研发测试工作。


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