当前位置:首页  >  产品展示  >  测试仪  >  测量仪  >  1InGas23 波长可选低‑中高温测温系统

InGas23 波长可选低‑中高温测温系统
参考价:¥10

型号:1

更新时间:2026-08-26  |  阅读:98

详情介绍

瑟梅拉光子 Camera Photonics Thermera InGas23 波长可选低‑中高温测温系统

设备完整信息:国别‑日本|品牌‑Camera Photonics瑟梅拉光子|型号‑Thermera InGas23|设备类型‑波长可选式InGaAs红外非接触测温成像整机系统

Thermera InGas23测温系统,是日本瑟梅拉光子推出的高性能红外测温成像设备,搭载InGaAs探测芯片,核心特点为波长可选择,针对不同被测物体材质,选用适配波段,有效降低发射率影响,提升测温数据准确度,覆盖低温、中温、高温宽量程测温需求。

设备属于非接触测量方式,无需接触被测工件,即可采集二维温度场热图像,捕捉稳态以及瞬态变化的热过程。整机包含测温相机主机、光学镜头、配套硬件接口,可对接Thermera系列温度解析软件,实现热图像保存、多点温度追踪、温度曲线生成、测试数据导出归档。适配金属、陶瓷、半导体元器件、各类复合材料试样,大量应用于工艺研发与材料科学试验,适合企业研发实验室以及高校科研单位使用。

技术参数

品牌Camera Photonics 瑟梅拉光子(日本光测温技术)
产品型号Thermera InGas23 波长可选低‑中高温测温系统
核心探测器InGaAs红外探测芯片
核心功能多波长可选、非接触红外测温、二维温度场成像、高速热图像采集、温度数据输出
测温范围覆盖低温‑中温‑高温区间
系统组成测温相机主机、光学镜头、接线组件、可配套Thermera解析软件
测量对象金属、陶瓷、半导体器件、复合材料等各类试样
输出形式红外热图像、温度云图、时序温度数据、温度曲线
使用场景研发实验室、工艺开发、材料热性能测试、半导体热测试
适用行业新材料、半导体、激光加工、热处理、高校科研院所
产地日本 Camera Photonics原厂

产品核心优势

  • 日本瑟梅拉光子原厂设备,专业红外测温成像技术;

  • 波长可选设计,适配不同材质,改善发射率带来测温偏差;

  • InGaAs探测器,兼顾低‑中‑高温宽量程测温;

  • 非接触测量,不会干扰、损伤被测样品;

  • 可与Thermera系列解析软件联动,完整完成采集‑解析‑导出全流程;

  • 兼顾稳态测温与瞬态高速热过程捕捉,适配多种科研研发工况。

典型应用领域

  • ✅半导体行业:器件热分布测试、晶圆热性能评估;

  • ✅激光工艺:激光作用过程温度场观测分析;

  • ✅新材料研发:各类材料热性能、热冲击性能试验;

  • ✅热处理领域:热处理工艺温度成像监测;

  • ✅科研院所:热科学方向各类非接触测温成像实验。


  • * 姓名:

  • * 电话:

  • * 单位:

  • * 验证码:

  • * 留言内容:

电话 询价

产品目录