当前位置:首页  >  产品展示  >  测试仪  >  测量仪  >  X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD

X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
参考价:

型号:

更新时间:2024-05-14  |  阅读:1036

详情介绍

X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD

X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD

日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -SDD

特征

  • X射线探测器采用硅漂移探测器(SDD)
  • 配备可编程 XY 平台
  • 大且易于进入的测量室(密闭室型)

主要规格

使用电动载物台,可以对极薄的薄膜进行自动测量和微量分析。

模型XDV-SDD
测量元件范围铝 (13) -U (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管微调焦管
初级过滤器6种
准直器数量/尺寸4种/Φ0.1mm~Φ3mm
车身尺寸660 x 835 x 720mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W

主要应用

  • 超薄膜和多层膜的检测(电子/半导体行业等)
  • 筛选分析(RoHS、玩具、包装标准有毒物质检测等)
  • NiP成分分析、厚度测量
    • * 姓名:

    • * 电话:

    • * 单位:

    • * 验证码:

    • * 留言内容:

    电话 询价

    产品目录