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更新时间：2024-05-14 | 阅读：1023
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X射线荧光测量仪 XDV ® -μ
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ
它是一种使用多毛细管透镜的荧光 X 射线测量设备。对于非常小的零件和结构零件，可以进行无损膜厚测量和材料分析。
| 模型 | XDV-μ |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 4种 |
| X 射线光学元件 / 尺寸 | 多毛细管透镜 Φ20µm（选项 Φ10µm） |
| 车身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
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