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更新时间：2024-05-14 | 阅读：1347
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X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
它是一种使用多毛细管光学元件的荧光 X 射线测量设备。
此外，由于是长距离型，测量距离约为 12 mm，因此可以在安装有台阶的板上无损地测量膜厚和分析材料。
| 模型 | XDV-μLD |
|---|---|
| 测量元件范围 | 小号 (16) - 小号 (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 4种 |
| X射线光学 | 多毛细管 |
| 测量光斑尺寸 | 约Φ80µm |
| 测量距离（与样品的距离） | 约12mm |
| 车身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
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