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晶圆边缘多尺度检测仪
参考价:¥10000

型号:UIH-1C

更新时间:2026-03-20  |  阅读:95

详情介绍

項目(Item)

产品概述

 超高辉度照明装置(UIH 系列)是日本 INTECS(英特斯)推出的精密目视检测专用超高辉度照明装置,专为半导体、光学器件、电子精密部件等领域设计,通过高亮度均匀卤素光源,实现对微小表面缺陷、内部异物及气泡的清晰目视识别,同时兼顾热敏性工件的热影响控制,是制造品控环节的核心辅助设备。

核心优势与性能特点

1. 高亮度精准照明

  • 在 180mm 标准工作距离下, 超高辉度照明装置(UIH 系列)的中心亮度可达60 万勒克斯,能清晰凸显微米级表面划痕、内部杂质、气泡等常规光源难以识别的微小缺陷,大幅提升目视检测可靠性。

  • 光路均匀性优异,50 万勒克斯照射直径达 φ45mm,避免局部过亮或暗区导致的漏检。

2. 灵活适配多场景

  • 亮度可调幅度达10:1 以上,可根据不同工件材质(透明玻璃 / 金属 / 半导体晶圆)、表面光洁度灵活调节,适配多样化检测需求。

  • 双倍照射模式下(360mm 距离)仍保持 15 万勒克斯亮度,兼顾小尺寸工件精细化检测与大尺寸工件高效筛查。

3. 稳定耐用与安全设计

  • 灯泡寿命表现优异:亮度下可持续工作≥50 小时,半亮度下寿命≥800 小时,降低耗材更换频率与运维成本。

  • 风扇强制风冷 + 断电后持续冷却功能,有效控制灯箱温度,避免高温对热敏性工件造成形变、变色,同时延长灯泡使用寿命。

  • SCR 相位调光技术,亮度调节平滑稳定,无频闪干扰,长期作业不易造成视觉疲劳。

4. 便捷易用的工程设计

  • 整机约 7kg,结构紧凑,便于实验室或生产现场移动部署,无需复杂安装,通电即可投入使用。

  • 无额外发热监测与冷却保持功能冗余设计,操作逻辑简洁,降低现场使用门槛。


典型应用场景

  • 半导体领域:抛光晶圆雾度检测、晶圆表面微小划痕与异物识别。

  • 光学领域:手机玻璃、光学镜头、平板显示面板的表面缺陷与内部气泡检查。

  • 电子领域:硬盘、精密电子元器件的外观瑕疵与内部杂质目视确认。

  • 精密制造:各类高精度金属 / 非金属部件的表面质量管控。


使用注意事项

  1. 主电源关闭后,风扇将持续运转至灯箱内部温度降至 40℃以下,此过程为正常保护机制,请勿强行断电。

  2. 建议根据工件材质与检测需求调节亮度,避免长时间使用高亮度以延长灯泡寿命。

  3. 设备适配 AC100V 电源,使用前需确认供电规格匹配,避免电压异常导致设备损坏。


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